列控系統(tǒng)綜合測(cè)試平臺(tái)針對(duì)目前中國(guó)列車(chē)運(yùn)行控制系統(tǒng)(CTCS)運(yùn)用、維護(hù)、管理的需要,聯(lián)合西安*科研技術(shù)研究所、*科學(xué)研究標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所,結(jié)合《2012年*科技研究開(kāi)發(fā)計(jì)劃指南》第11項(xiàng)提出的“列控系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)深化研究"研究方向,以及部科技司《2012年鐵路計(jì)量工作要點(diǎn)》的要求,研制開(kāi)發(fā)用于測(cè)試CTCS-3列控系統(tǒng)所涉及的軌道電路、機(jī)車(chē)速度(速度傳感器)、地面應(yīng)答器(BTM)、GSM-R
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
針 對(duì)目前中國(guó)列車(chē)運(yùn)行控制系統(tǒng)(CTCS)運(yùn)用、維護(hù)、管理的需要,聯(lián)合西安*科研技術(shù)研究所、*科學(xué)研究標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量研究所,結(jié)合《2012年* 科技研究開(kāi)發(fā)計(jì)劃指南》第11項(xiàng)提出的“列控系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)深化研究”研究方向,以及部科技司《2012年鐵路計(jì)量工作要點(diǎn)》的要求,研制開(kāi)發(fā)用于測(cè)試 CTCS-3列控系統(tǒng)所涉及的軌道電路、機(jī)車(chē)速度(速度傳感器)、地面應(yīng)答器(BTM)、GSM-R網(wǎng)、電源模塊、繼電器、接口電路、總線(xiàn)特性等關(guān)鍵單元 模塊、關(guān)鍵技術(shù)參量的綜合測(cè)試平臺(tái)。該綜合測(cè)試平臺(tái)可向下兼容,完成對(duì)2型列控系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)參量的綜合測(cè)試。
同時(shí),針對(duì)上述各參量,依據(jù)相關(guān)列控系統(tǒng)技術(shù)規(guī)范,制定符合計(jì)量特性要求的量值溯源保證方案,研制配套計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,制定相應(yīng)鐵專(zhuān)計(jì)量檢定規(guī)程、校準(zhǔn)規(guī)范。
通過(guò)對(duì)上述各關(guān)鍵單元模塊、參量的有效、準(zhǔn)確校驗(yàn)、測(cè)試,并zui終有效溯源至社會(huì)公用計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),從而保證3型在運(yùn)用過(guò)程的安全、穩(wěn)定、可靠,滿(mǎn)足鐵路運(yùn)輸安全生產(chǎn)的需要。該系統(tǒng)能夠滿(mǎn)足3型設(shè)備的檢測(cè)需要,向下兼容2型,使用簡(jiǎn)單方便,性能可靠,符合*的技術(shù)規(guī)范。
該綜合測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)3型列控系統(tǒng)各主要單元模塊、關(guān)鍵技術(shù)參量進(jìn)行測(cè)試、校驗(yàn)的裝置,并配套制定相應(yīng)的鐵專(zhuān)計(jì)量檢定規(guī)程、校準(zhǔn)規(guī)范,為3型及2型列控系統(tǒng)的日常維護(hù)、檢修提供有效、可靠的測(cè)試手段,從而進(jìn)一步強(qiáng)化規(guī)范,確保列車(chē)運(yùn)行安全,提高運(yùn)輸效率。
主要實(shí)現(xiàn)功能及技術(shù)指標(biāo):
1、實(shí)現(xiàn)對(duì)軌道電路信號(hào)接收單元的測(cè)試:
上下邊頻頻率:中心頻率為1700Hz、2000Hz、2300Hz、2600Hz,測(cè)量誤差為±0.3Hz
低頻頻率:測(cè)量范圍為10Hz~30Hz,測(cè)量誤差為±0.03Hz
電壓:測(cè)量誤差±2.0%
2、實(shí)現(xiàn)對(duì)速度傳感器、測(cè)速模塊的功能、參數(shù)測(cè)試:
輸出信號(hào)頻率、幅度、相位、占空比,總體測(cè)量準(zhǔn)確度:±0.5%;
3、實(shí)現(xiàn)對(duì)應(yīng)答器信息接收模塊(BTM)性能、參數(shù)的測(cè)試:
4、實(shí)現(xiàn)對(duì)GSM-R網(wǎng)車(chē)載模塊的功能測(cè)試
5、測(cè)試各電源模塊工作電壓、負(fù)載能力
6、測(cè)試?yán)^電器觸點(diǎn)電壓、阻抗范圍及供電電壓下的吸合、斷開(kāi)等電氣特性。
7、實(shí)現(xiàn)對(duì)系統(tǒng)內(nèi)電路板、接口、總線(xiàn)特性的離線(xiàn)測(cè)試。