四探針高溫電阻率測試儀
一.概述:overview
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求,軟件實時繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線圖譜,及過程數據值的報表分析.
二.適用行業:Applicable industry:
用于:企業、高等校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國A.S.T.M 標準。
三.型號及參數Models and technical parameters:
規格型號Models | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-5~2×105Ω/□ | 10-6~2×105Ω/□ | 10-4~1×107Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity range | 10-6~2×106Ω-cm | 10-7~2×106Ω-cm | 10-5~2×108Ω-cm |
3.測試電流范圍test current range | 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
