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北京智德創新儀器設備有限公司
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介質損耗因數試驗儀（介電常數測試儀）是智德創新公司研制的產品。它以DDS數字直接合成方式產生信號源，頻率達160MHz，信號源具有信號失真小，頻率精確、信號幅度穩定的優點，更保證了測量精度的精確性，主電容調節用步進馬達控制，頻率和電容值可設置，電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示。
介質損耗因數試驗儀（介電常數測試儀）—介質損耗因數的物理意義
絕緣介質在交流電壓作用下會在絕緣介質內部產生損耗，這些損耗包括絕緣介質極化產生的 損耗、絕緣介質沿面爬電產生的損耗和絕緣介質內部局部放電產生的損耗等。由于絕緣介質內部產生了損耗，所以造成施加在絕緣介質上的交流電壓與電流之間的功率因數角不再是90°。我們把功率因數角的余角稱為介質損失角，并用介質損耗因數(tanδ)來表示絕緣系統電容的介質損耗特性。
介質損耗因數(tanδ)的表示方法
由圖5-7等效電路圖和相量圖可知，絕緣介質中的損耗可表示為W=UIcos＝UIR＝UICtanδ， 所以 tanδ=IR/IC。為了便于比較，通常取tanδ=IR/IC×100%，即用tanδ來表示相對的介質損耗因數的大小。這樣可以消除絕緣介質幾何尺寸差異造成的影響，便于比較和判定不同結構產品的絕緣性能。
介質損耗因數試驗儀（介電常數測試儀）實驗步驟：
1、按照Q表的操作規程調整儀器，選定測量頻率，測定C1和Q1的值。
2、將試樣放入測試電極中，并調節電容器C，使電路諧振，達到最大Q值記下調諧電容量C2和Q2的值。
3、將試樣從測試電極中取出，調節C或測試電極的距離，使電路重新諧振，記下C、或測試電極的校正電容值與Q值，北京智德創新檢測儀器并根據測試值計算出損耗角tanδ與介電常數ε。
4、其他高頻測試儀器按其說明書進行操作，北京智德創新檢測儀器通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數ε。
產品特點：
1、雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2、雙測試要素輸入 - 北京智德創新檢測儀器測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3、雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
4、自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5、全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6、DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
7、計算機自動修正技術和測試回路優化—使測試回路 殘余電感減至低值，che底gen除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
8、新增功能：電感測試時，儀器自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能。大大提高了在電感值（特別是小電感值）測量時的精度。此技術只有北京智德創新儀器生產的Q表有。
9、新增功能：大電容值直接測量顯示功能，電容值直接測量值可達25nF（配100uH電感時）。大電容值測量一個按鍵搞定。此技術只有北京智德創新檢測儀器生產的Q表有。
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