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X射線熒光分析技術

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更新時間：2024-02-09 14:43:50瀏覽次數：156次

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江蘇迪泰克精密儀器有限公司

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產品簡介

X射線熒光（XRF）分析技術以一定能量的光子、電子、質子、α粒子或其他重離子的射線照射樣品，從樣品原子中激發(fā)出特征X射線，通過對特征X射線的探測實現對樣品的定性定量分析

詳細介紹

X射線熒光（XRF）分析技術以一定能量的光子、電子、質子、α粒子或其他重離子的射線照射樣品，從樣品原子中激發(fā)出特征X射線，通過對特征X射線的探測實現對樣品的定性定量分析。XRF分析方法制樣簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內，可直接用于原位和現場在線分析，在地質、材料、環(huán)境、冶金、考古和太空探索等領域占有重要地位。

性能特點

XRF分析方法簡單，測量快速，適合于固體樣品中主、次、痕量多元素同時測定，檢出限在μg/g量級內，可直接用于原位和現場在線分析，在地質、材料、環(huán)境、冶金、考古和太空探索等領域占有重要地位。