一、儀器介紹
XPH-500型偏光熔點儀測定儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的專業實驗儀器。本系列偏光熔點儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件,如:化工的化學纖維,半導體工業以及藥品檢驗。
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二、儀器特點
偏光熔點儀測定儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、技術參數
1.目鏡
類 型 | 放大倍數 | 視場(mm) |
平場目鏡 | 10X | φ22 |
十字目鏡 | 10X(選) | φ20 |
2.物鏡
類 型 | 放大倍數 | 數值孔徑(NA) | 工作距離(mm) | 蓋玻片厚度(mm) |
無應力平場 消色差物鏡 | 4X | 0.1 | 7.18 | - |
10X | 0.25 | 4.70 | 0.17 |
40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 |
60X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍數:40X 100X 400X 600X
系統放大倍數:40X-2600X
4.聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調
5.起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90°,內置勃氏鏡,中心可調
7.補償器:λ片(Ф18mm,一級紅,光程差551nm)
λ/4片(Ф18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
8.調焦系統:帶限位和調節松緊的同軸粗微動,微動格值0.002mm
9.電光源:6V/20W 鹵素燈(亮度可調)
10.防霉:的防霉系統
四、系統組成
電腦型偏光熔點儀測定儀(XPH-500P):1、偏光顯微鏡2、適配鏡3、彩色攝像器 4、A/D圖像采集卡 5、高精度熱臺
數碼相機型偏光熔點儀測定儀(XPH-500D):
1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機 4、高精度熱臺
五、選購件
1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡:20X