借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經驗打造而成，Epsilon 4 是一款多功能臺式 XRF 分析儀，廣泛用于從研發到流程控制等各個領域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業細分市場。 Epsilon 4 將激發和檢測技術與成熟軟件和智能設計相結合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
Epsilon 4 任意位置
由于較低的基礎設施要求，可以將 Epsilon 4 放到生產過程中靠近生產線的任意位置。 其高性能使大多數應用能夠在環境條件下運行，從而降低氦氣或真空維護的成本。
超越分析的價值
能量色散式 X-射線熒光光譜儀可分析從碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵蓋從百萬分之一以下到 100 wt% 的濃度。
將 Omnian 用于無標分析，當需要快速分析鑒定時，則使用 FingerPrint 來進行材料測試，或者使用 Stratos 來對涂層、表面層和多層結構進行快速、簡單和非破壞性的分析。 還可以使用支持與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規合規的增強的數據安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。
支持各類樣品
Epsilon 4 可處理多種樣本類型，包括固體、壓片和疏松粉末、液體和濾膜。 在重量從幾毫克到幾千克的樣品上，對從碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素進行非破壞性的定量分析，涵蓋從 99% 到百萬分之一以下的濃度范圍。
Epsilon 4 是穩健、可靠的傳統系統替代方案，已在許多行業和應用領域中得到廣泛應用，甚至在輕元素分析非常重要的環境中，包括：水泥生產、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關行業、玻璃生產、法醫學、
制藥、保健產品、環保、食品和化妝品。
特點
靈活的配置
Epsilon 4 是高度靈活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于從研發到過程控制等各個領域的元素分析 (F - Am)。 要實現更高的樣品處理量或擴展的輕元素功能，并且處于更加具有挑戰性的環境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以對碳、氮和氧進行分析。
新發展
Epsilon 4 儀器將射線探測技術與分析軟件結合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測器 SDD30 以及緊湊的光路設計相結合，提供了甚至超過 50 瓦功率 EDXRF 系統以及臺式 WDXRF 系統的分析性能 - 同時還額外提高了能源利用效率。
迅速、敏感
利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現迅速測量。
探測器電路提供的線性計數率可超過 1,500,000 cps（在 50% 的死時間下），和計數率無關的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分離光譜中的分析譜線。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行，因此與傳統的 EDXRF 臺式儀器相比，實現了更高的樣品通量。
降低氦氣消耗量
Epsilon 4 的高性能使得許多應用可以在空氣環境中運行，無需較長的進樣時間和費用來維護氦氣或真空系統。 在空氣中測量時，鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。 內置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化，確保在各種氣候條件下結果不受影響。
