我們的模塊化科研級(jí)Nanolog穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料的研究而設(shè)計(jì)的。

Nanolog®系列熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料等前沿研究而設(shè)計(jì)的。可實(shí)現(xiàn)幾毫秒內(nèi)獲得完整光譜，幾秒內(nèi)獲得而完整的激發(fā)發(fā)射三維矩陣。

基于的Fluorolog®技術(shù)，Nanolog®除可實(shí)現(xiàn)紫外和可見光區(qū)域內(nèi)熒光檢測外，也可在800-1700nm的近紅外范圍內(nèi)檢測熒光信號(hào)（可選擇多通道檢測至2um，單通道檢測至3um。Nanolog®配有專門設(shè)計(jì)的軟件Nanosizer，是對SWNTs、量子點(diǎn)等納秒材料進(jìn)行分類和能量傳遞計(jì)算的理想選擇。

概要：

技術(shù)特點(diǎn)

• 超快三維光譜采集速度（在幾秒鐘內(nèi)即可快速完成激發(fā)-發(fā)射矩陣掃描）

• 陣列InGaAs檢測器具有近紅外高靈敏度

• 高分辨率

• 實(shí)現(xiàn)SWNTs種類和系列的鑒定和量化分析

• 兼容從紫外到近紅外等各種檢測器

• 光電倍增管可現(xiàn)在靈敏度和時(shí)間分辨分析

• CCD和陣列InGaAs檢測器可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)快速采集

• 量子點(diǎn)混合物能量傳遞實(shí)驗(yàn)研究

• 模塊化設(shè)計(jì)

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配置：

• 450 W 連續(xù)氙燈，用于從紫外到近紅外區(qū)域激發(fā)

• 幾秒鐘完成激發(fā)-發(fā)射三維矩陣掃描

• InGaAs陣列檢測器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式，間距小至25 µm；噪聲低至650 erms，液氮制冷以獲得信噪比；可選擇電制冷；擴(kuò)展檢測范圍選項(xiàng)（1.1 - 2.2 µm）。

• iHR320成像光譜儀：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（帶狹縫）；軟件控制的三層光柵塔輪（所有測量均采用1200 grove/mm的光柵

• 可提供固態(tài)近紅外檢測器，紫外到近紅外的光電倍增管，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)的壽命測試（100ps到1ms，紫外到近紅外），門控技術(shù)的壽命測試（1μs到>10s，紫外到近紅外），以及頻域壽命測量（10ps到10μs，紫外到近紅外）。

光路圖

應(yīng)用： 

NonoLog進(jìn)行碳納米管的熒光光譜研究 單壁碳納米管(SWNTs)是一種由碳原子卷成的單層碳納米管，近年來受到了廣泛的關(guān)注。		SWNTs的發(fā)光研究
碳納米管更好信噪比光譜的獲得 修正的碳納米顆粒發(fā)射光譜1可以提供激發(fā)波長范圍內(nèi)的激發(fā)-發(fā)射矩陣(EEMs)。		量子點(diǎn)近紅外光致發(fā)光檢測 HORIBA Jobin Yvon的NanoLog®熒光光譜儀，專門為納米材料的近紅外熒光檢測而優(yōu)化，包括雙光柵激發(fā)單色儀、帶可選光柵轉(zhuǎn)臺(tái)的成像發(fā)射光譜儀和多種探測器
量子點(diǎn)光致發(fā)光光譜檢測 量子點(diǎn)在光電子學(xué)、生物傳感、生物標(biāo)記、存儲(chǔ)器件和激光光源等領(lǐng)域都有著潛在的應(yīng)用。		使用NanoLog獲得更好的碳納米管數(shù)據(jù) HORIBA Scientific NanoLog®是為研究單壁碳納米管(SWCNTs)的而設(shè)計(jì)的熒光光譜儀。
熒光各向異性法測量二氧化硅納米顆粒 二氧化硅是目前最重要的工業(yè)材料之一，其納米顆粒是通過溶膠—凝膠過程形成的。		NanoLog系列：新一代性能之作 NanoLog®被譽(yù)為檢測單壁碳納米管（SWCNT）的儀器