將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統SEM/EDS 檢驗相比， 測定微觀結構成分的時間可節省90%。集成激光光譜功能可針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。
l用于目視和化學分析的二合一系統
l1 秒即可獲得化學元素圖譜
l無需樣品制備
l只需一次單擊，即可準確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質，從而快速簡單的識別和解釋。
l操作員不需要額外的專業性知識
實現快速準確材料分析的二合一系統
徠卡DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結構的化學成分。
識別感興趣的微觀結構成分，隨后只需單擊一下，即可觸發LIBS 分析。
l與典型的電鏡方法*相比，節省90% 的時間，而且
l以可靠的目視和化學檢驗材料信息為基礎，快速做出自信的決策。
*可根據要求提供證明
無需SEM 樣品制備
為什么使用徠卡DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節省90% 的時間？因為這種解決方案：
l無需樣品制備和轉移；
l無需系統調節；
l無需重新定位感興趣區域(ROI)。
l減少工作流程
l將工作流程精簡至只有一個步驟，以結果為重點。
組件清潔度分析
徠卡DM6 M LIBS 二合一系統與Cleanliness Expert 分析軟件相結合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗。
這樣可以更輕松地找到污染源。
做出自信的決策
通過快速獲取顆粒成分和結構的數據，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優勢。
微觀結構成分的評估
徠卡DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執行物相的結構和元素/化學分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
無需進行樣品制備，也無需在2 個或更多設備之間進行轉移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
減少占用人力資源的樣品制備
減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的SEM/EDS 分析，從而節省時間和資金。
材料的深度剖面圖和層次分析
LIBS 的消融原理可被運用于材料的微型打孔。
微型打孔可應用于諸如：
l深度剖面
l層次分析
l表面清潔
在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時，深度剖面有用。
層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬，都屬于層狀材料。
利用表面清潔可以去除氧化物和污染。
LIBS：您的化學分析研究利器
徠卡DM6 M LIBS 解決方案運用激光誘導擊穿光譜(LIBS) 使定性化學分析成為可能。
單擊即可觸發分析，激光將穿透樣品上的瞄準點。一個等離子體將會產生，然后分解。產生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
軟件將圖譜與已知的元素和化合物數據集進行對比，從而確定微觀結構的成分。數據集可以隨著用戶獲得的具體材料結果得到擴充。
